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如何實(shí)現(xiàn)碳化硅晶圓的高效低損傷拋光?

文章出處:粉體圈網(wǎng)責(zé)任編輯:作者:小吉人氣:-發(fā)表時間:2022-08-15 17:33:00【

SiC晶型結(jié)構(gòu)特點(diǎn)使得SiC材料具有較高硬度與化學(xué)穩(wěn)定性,導(dǎo)致在拋光過程中材料去除率較低,因此探索基于化學(xué)機(jī)械拋光基本工藝的輔助增效手段,對于實(shí)現(xiàn)SiC材料產(chǎn)業(yè)化應(yīng)用和推廣具有重要的意義。

化學(xué)機(jī)械拋光輔助增效技術(shù)材料去除機(jī)理本質(zhì)是通過輔助增效技術(shù)手段來控制SiC表面較軟氧化層的形成并從力學(xué)上改善SiC氧化層材料的去除方式。目前拋光中的輔助增效手段主要有等離子輔助、催化劑輔助、紫外光輔助和電場輔助。

01等離子輔助工藝

等離子輔助拋光(PlasmaAssistedPolishing,PAP)工藝是通過等離子將表面材料氧化為較軟的氧化層,同時仍依靠磨料摩擦磨損去除材料的一種輔助化學(xué)機(jī)械拋光。

其基本原理為:通過射頻發(fā)生器(RF)使反應(yīng)氣體(如水蒸氣、O2等)產(chǎn)生含有自由基團(tuán)(如OH自由基團(tuán)、O自由基)的等離子體,具有較強(qiáng)氧化能力的自由基團(tuán)對SiC材料表面氧化改性,獲得一層較軟的氧化層,然后利用軟磨料(如CeO2、Al2O3等)拋光去除該氧化層,使SiC材料表面達(dá)到原子級光滑面。

不過在PAP工藝過程中,SiC晶片表面處理是在電離出等離子體產(chǎn)生的活性自由基氧化軟化晶片表層基礎(chǔ)上用軟磨料進(jìn)行機(jī)械去除,故材料去除率(MaterialRemovalRate,MRR)不僅受活性自由基及氧化層生成速率較慢的影響,還受磨料軟質(zhì)性的影響,導(dǎo)致SiC晶片的MRR較低;另外,由于PAP工藝試驗(yàn)設(shè)備價格和加工的費(fèi)用較高,局限了PAP工藝加工SiC晶片的推廣。

02催化劑輔助工藝

催化劑輔助工藝的材料去除基本機(jī)理主要是在試劑催化作用下,在SiC表層反應(yīng)生成硬度較軟的氧化層,利用磨料的機(jī)械去除作用去除氧化層,以獲得高質(zhì)量表面。

例如采用Fe3O4催化劑和H2O2氧化劑在以金剛石為磨料的化學(xué)機(jī)械拋光技術(shù)下進(jìn)行輔助,可獲得較理想粗糙度的表面。

03紫外光輔助工藝

紫外光催化反應(yīng)是強(qiáng)氧化反應(yīng)之一,其基本原理是利用光催化劑在紫外光的作用下和電子捕捉劑發(fā)生光催化反應(yīng),產(chǎn)生活性自由基(·OH)。由于OH自由基團(tuán)的氧化性較強(qiáng),使其在SiC表層發(fā)生氧化反應(yīng),生成一層較軟的SiO2氧化層,而被軟化的SiO2氧化層更容易被磨料拋光去除;另一方面,氧化層與晶片表面之間結(jié)合強(qiáng)度低于SiC晶片的內(nèi)部結(jié)合強(qiáng)度,降低了磨料在拋光過程中的切削力,減小了在晶片表層上留下的劃痕深度,提高了表面加工質(zhì)量。

04電場輔助工藝

電化學(xué)機(jī)械拋光(ElectrochemicalMechanicalPolis-hing,ECMP)技術(shù)的基本原理是通過在傳統(tǒng)化學(xué)機(jī)械拋光處理時,對拋光液施加直流電場,在電化學(xué)氧化下,使得SiC拋光表面形成氧化層,氧化層的硬度顯著降低,利用磨料將軟化后的氧化層進(jìn)行去除,實(shí)現(xiàn)高效的超精密加工處理。

采用這種方法時,若陽極電流較弱,則加工表面質(zhì)量較好,但材料去除率變化不大;若陽極電流較強(qiáng),則材料去除率顯著提高,但陽極電流過強(qiáng)會導(dǎo)致表面精度下降及多孔現(xiàn)象。由此可見,對化學(xué)機(jī)械拋光施加外電場進(jìn)行電化學(xué)機(jī)械拋光時,試件表層的氧化速率和材料去除率相協(xié)調(diào)的問題,是高效獲得光滑表面的關(guān)鍵點(diǎn)。

總結(jié):由于化學(xué)和機(jī)械的共同作用,化學(xué)機(jī)械拋光仍是SiC材料最有潛力的平坦化超精密加工方法,由于SiC材料本身具有可加工性差、脆性強(qiáng)及硬度高等不利于加工的特點(diǎn),現(xiàn)階段SiC材料的化學(xué)機(jī)械拋光技術(shù)仍存在一些問題。新型的化學(xué)機(jī)械拋光輔助增效技術(shù)已經(jīng)進(jìn)入了嘗試和摸索階段,但不同的化學(xué)機(jī)械拋光輔助增效技術(shù)對SiC材料的影響不同,結(jié)果缺乏可預(yù)見性,各類化學(xué)機(jī)械拋光輔助增效技術(shù)的研究在廣度上和深度上還不夠,未來仍需從拋光原理、材料表面磨削的精確檢測及優(yōu)化做更深入的探索。

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