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碳化硅檢測的顯微圖象法

文章出處:原創(chuàng)網責任編輯:劉坤尚作者:王曉曉人氣:-發(fā)表時間:2015-01-02 16:52:00【

  金蒙新材料使用的顯微圖象法包括顯微鏡、CCD攝像頭(或數碼像機)、圖形采集卡、計算機等部分組成。它的基本工作原理是將顯微鏡放大后的碳化硅顆粒圖像通過CCD攝像頭和圖形采集卡傳輸到計算機中,由計算機對這些圖像進行邊緣識別等處理,計算出每個黑碳化硅微粉和綠碳化硅微粉的顆粒的投影面積,根據等效投影面積原理得出每個顆粒的粒徑,再統(tǒng)計出所設定的粒徑區(qū)間的顆粒的數量,就可以得到粒度分布了。

  由于這種方法單次所測到的碳化硅微粉的顆粒個數較少,對同一個樣品可以通過更換視場的方法進行多次測量來提高測試結果的真實性。除了進行碳化硅微粉粒度測試之外,顯微圖象法還常用來觀察和測試碳化硅顆粒的形貌。

此文關鍵字:碳化硅 碳化硅微粉